產(chǎn)品中心
當(dāng)前位置:首頁 > 產(chǎn)品中心 > PCT/HAST高壓老化試驗(yàn)箱 >
產(chǎn)品分類CLASSIFICATION
高加速壽命實(shí)驗(yàn)箱用于測(cè)試產(chǎn)品在高溫、高溫高濕及壓力的氣候環(huán)境下的貯存、運(yùn)輸和使用時(shí)的性能試驗(yàn),主要用于對(duì)電工、電子產(chǎn)品,元器件、零部件、金屬材料及其材料在模擬高溫、高溫高濕及壓力的氣候條件下,對(duì)產(chǎn)品的物理以及其它相關(guān)性能進(jìn)行測(cè)試,測(cè)試后,通過檢定來判斷產(chǎn)品的性能是否能夠達(dá)到要求,以便供產(chǎn)品的設(shè)計(jì)、改進(jìn)、檢定及出廠檢驗(yàn)使用。
高壓蒸煮可靠性試驗(yàn)用于測(cè)試產(chǎn)品在高溫、高溫高濕及壓力的氣候環(huán)境下的貯存、運(yùn)輸和使用時(shí)的性能試驗(yàn),主要用于對(duì)電工、電子產(chǎn)品,元器件、零部件、金屬材料及其材料在模擬高溫、高溫高濕及壓力的氣候條件下,對(duì)產(chǎn)品的物理以及其它相關(guān)性能進(jìn)行測(cè)試,測(cè)試后,通過檢定來判斷產(chǎn)品的性能是否能夠達(dá)到要求,以便供產(chǎn)品的設(shè)計(jì)、改進(jìn)、檢定及出廠檢驗(yàn)使用。
高壓蒸煮實(shí)驗(yàn)適用于各電子連接器、電鍍産品、半導(dǎo)體IC、晶體管、二極管、液晶LCD、芯片電阻電容、零組件產(chǎn)業(yè)、被動(dòng)元件及電子零組件金屬接腳沾錫性試驗(yàn)前的氧化加速壽命試驗(yàn),符合國(guó)標(biāo)軍規(guī)MTL-STP-208F,202。
小型高壓蒸煮試驗(yàn)箱適用于國(guó)防、航天、汽車部件、電子零配件、塑膠、磁鐵行業(yè)、制藥線路板,多層線路板、IC、LCD、磁鐵、燈飾、照明制品等產(chǎn)品之密封性能的檢測(cè),相關(guān)之產(chǎn)品作加速壽命試驗(yàn),使用于在產(chǎn)品的設(shè)計(jì)階段,用于快速產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)。測(cè)試其制品的耐厭性,氣密性。